Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп JSM-7500F

Компания АО "ТРЭМ Инжиниринг" неизменно инвестирует в свое производство, обеспечивая как количественное, так и качественное развитие. В частности, был приобретен и задействован в работе электронный микроскоп JSM-7500F.

Только увеличения, даваемые микроскопом такого класса, позволяют понимать нюансы структуры материала и предсказывать его трибологию. Это поможет еще дальше оптимизировать состав и технологию производства изделий из карбида кремния и специальных пластиков.

JSM-7500F microscope

Подробнее о данном микроскопе:

JSM-7500F – автоэмиссионный сканирующий (растровый) электронный микроскоп производства фирмы JEOL (Япония), предназначенный для универсальности и ультравысокого разрешения. При низком ускоряющем напряжении он обеспечивает сверхвысокое разрешение (1.4 нм при 1кВ). Это делает JSM-7500F прекрасным инструментом для анализа структуры наноструктурных объектов, особенно тех, которые чувствительны к воздействию электронных пучков. Микроскоп снабжен системой детекторов, в том числе энергодисперсионной рентгеновской приставкой (кремний-литиевым детектором) INCA Penta FETx3 производства фирмы OXFORD (Великобритания), которая установлена в той же высоковакуумной камере микроскопа. INCA Penta FETx3 позволяет проводить качественное (идентификацию) и количественное определение элементов от Na до U c содержанием от 0.1 до 100 мас. %.

Основные технические характеристики

Пространственное разрешение 1.0 нм (15 кВ); 1.4 нм и (1 кВ); 0.6 нм (30кВ) (достижимо)
Увеличение от ×25 до ×1 000 000
Диапазон ускоряющего напряжения от 0.1кВ до 30 кВ
Диапазон токов пучка от 10-12 до 2×10-9 A
Разрешение (количественный анализ) 129 эВ по С.